Detail produktu
Metodologie měření povrchové kontaminace I
BÁBOR, P. POTOČEK, M.
Typ produktu
ostatní
Abstrakt
Metodologie kontroly čistoty povrchů optických krystalů pro zakřivené optické povrchy umožňuje optimalizovat výrobu optických krystalů a dalších optických prvků, z hlediska čistoty povrchu, která má zásadní vliv nejen na optické parametry výrobků (transmisivita, odolnost při vysokých světelných výkonech). Umožňuje sledovat čistotu krystalů mezi jednotlivým technologickými kroky.
Klíčová slova
analýza kontaminace, SIMS, LEIS, XPS, optická povrchy
Datum vzniku
31. 12. 2024
Umístění
Ceitec nano - sdílené laboratoře
Možnosti využití
K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licenční poplatek
Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
Odpovědnost: Ing. Marek Strakoš