Product detail
Metodologie měření povrchové kontaminace I
BÁBOR, P. POTOČEK, M.
Product type
ostatní
Abstract
Metodologie kontroly čistoty povrchů optických krystalů pro zakřivené optické povrchy umožňuje optimalizovat výrobu optických krystalů a dalších optických prvků, z hlediska čistoty povrchu, která má zásadní vliv nejen na optické parametry výrobků (transmisivita, odolnost při vysokých světelných výkonech). Umožňuje sledovat čistotu krystalů mezi jednotlivým technologickými kroky.
Keywords
analýza kontaminace, SIMS, LEIS, XPS, optická povrchy
Create date
31. 12. 2024
Location
Ceitec nano - sdílené laboratoře
Possibilities of use
K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licence fee
Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
Responsibility: Ing. Marek Strakoš